当代微电子技术、电子计算机等先进高新技术与纺织检测技术的结合，使对原纱断裂环的测试有了新的发展。如前所述，在实行了大容量原纱抗拉强力试验后发现原纱中存在引起纱线断裂的弱环，这些弱环是普通强力机所不容易测出的，它主要是由原纱上的细节造成。而原纱上的细节与断裂点之间相关情况还是在高新技术测试仪应用后才得到比较准确的答案。
　　原纱上的细节与强力弱环（断裂点）之间的关系的试验是在一种新型原纱条干及抗强力联合试验仪上进行的（见图1、图2），试验时首先进行原纱条干试验，可精确测试出沿纱的长度方向每毫米长度纱样的横截面面积的变化，并将被测试的结果经过A/D转换器输往电子计算机加工并贮存，还可在荧屏上自动显示出被测纱线断面积变化的曲线及断面形态（见图3、图4）。图2所示当试验纱线断裂时，光线从断裂处投射到传感器上。

捡测条干的灵敏度可根据需求设定（如细节-40%，粗节+50%、棉结为+280等），被试完每毫米截面积变化的纱样在专门的卷绕机上被卷绕成筒子备作抗拉强力试验。将卷绕成筒子的纱样自动引入到自动单纱强力机上进行抗拉强力试验。这种测试仪配有A/D转换器及高速摄影装置，光学技术系统及自动显示技术，不仅自动地显示出纱样横截面面积的变化曲线，而且能精确的显示出每段纱上强力弱环与细节的相关情况。
? 经过联合试验仪的测试得出如下情况：

原纱断裂点发生在纱的最细部分（短细节部分）纱的横截面最小部分纤维根数最少，承受张力最低：（见图5）

长细节处会发生断裂，长细节Ltp或较多的细节联在一起，Xtp存在着断裂弱环，Ltp越长在细节处Xtp绝对值越大，这部分细节的断裂强力越低。（见图7）
原纱细节与断裂点之间相关程度试验（表1）

表1表明有61.03%的断裂点是发生在细节处。但有些细节并不发生断裂，还表明断裂点不一定都发生在细节处。即断裂点与细节并不完全吻合。约有39%的断