[供应] X荧光光谱仪 |
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发布公司:健豪仪器股份有限公司 |
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发布日期:2008/1/20 0:14:00 |
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详细说明 |
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产品名称:X荧光光谱仪
型号:KHT-047
原理:能量色散X射线荧光分析法
分析元素:Na ~U任意元素, 铅(Pb)、汞(Hg)、六价铬(Cr6+)、多溴联苯(PBB)和多溴联苯醚(PBDE)中的溴,直接分析出六价铬(Cr6+)含量
技术指标、:检出下限(Cd/Pd):Cd/Cr/Hg/Br≦2 ppm, Pb≦5 ppm
样品形状:任意大小,任意不规则形状
样品类型:塑胶/金属/薄膜/粉末/液体
X射线管:靶材/Mo 管电压/5~50 kV 管电流/最大1~1000 μA
照射直径:2、5、8mm
探测器:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器
滤光片:八种新型滤光片自动选择
样品定位:微动载物平台(选配)
样品观察:30倍彩色CCD摄像机
微区分析:X光聚焦微区分析系统(选配)软件
定量分析:理论Alpha系数法(NBS-GSC法)
数据处理:IMB PC/AT/内存/256 MB 以上/硬盘/40 GB 以上系统:Windows XP正版
功率:1.1kW
重量:40Kg
外形尺寸:550(W)×450(D)×450(H)mm
配置:标准配置:Si(PIN)半导体高灵敏度探测器(<155eV)
X光光管(寿命>15000小时)
高压电源(RSD<0.25%)
大样品仓
高精密摄像机(130万像素)
Alpha系数法(NBS-GSC法)定量软件
计算机(方正P4品牌机,17寸液晶显示器)
打印机(爱普生彩色喷墨打印机)
测试用样品杯2个,测试用塑料薄膜数张
标 样:欧盟标样EC681一片、银校正标样一片。
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